Vergleichende Tiefenprofilanalyse an Na₂O · 8 SiO₂-Schichten auf Glas mit verschiedenen Verfahren der Oberflächenspektroskopie Comperative depth profile analysis of Na₂O · 8 SiO₂ films on glass with different methods od surface spectroscopy Analyse comparée des profiles de concentration en profondeur de couches Na₂O · 8 SiO₂ sur verre par des différentes méthodes de la spectroscopie de surface

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Date
1983
Authors
Volume
56
Issue
Journal
Glastechnische Berichte
Series Titel
Book Title
Publisher
Offenbach : Verlag der Deutschen Glastechnischen Gesellschaft
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Abstract

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Description
Keywords
URI
https://oa.tib.eu/renate/handle/123456789/18479
 https://doi.org/10.34657/17499
Citation
Bach, H., Knödler, H., Olsen, R. R., & Waldecker, G. G. (1983). Vergleichende Tiefenprofilanalyse an Na₂O · 8 SiO₂-Schichten auf Glas mit verschiedenen Verfahren der Oberflächenspektroskopie Comperative depth profile analysis of Na₂O · 8 SiO₂ films on glass with different methods od surface spectroscopy Analyse comparée des profiles de concentration en profondeur de couches Na₂O · 8 SiO₂ sur verre par des différentes méthodes de la spectroscopie de surface. Offenbach : Verlag der Deutschen Glastechnischen Gesellschaft.
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Glastechnische Berichte : Zeitschrift für Glaskunde
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