Verbundprojekt: Eingebettete Datenspeicher für Mikrocontroller mit Künstlicher Intelligenz - StorAIge; Teilvorhaben: Integration von nichtflüchtigen Speichertechnologien für KI-Anwendungen

Abstract

Ziel des Projektes war die Entwicklung eines neues Verifikations- und Validierungskonzept für ferroelektrische Speicher. Im Rahmen dieser Aufgabe sollten mittels des entwickelten Testkonzeptes alle Charakterisierungen und Zuverlässigkeitsergebnisse geliefert werden können.

Das Konzept sollte mit geeigneten EDA-Tools und Simulationsmodellen erarbeitet und mit Hilfe eines Testchips im Silizium verifiziert werden. Es wurde geplant, mit 180nm zu beginnen und die Entwicklung auf 110nm anzupassen. Die Entwicklungsaufgaben des Test Chip-Designs umfassten die Konzeptionierung der Architektur, der Schaltplan und die Layout-Implementierung der Decoder, des Speicherarrays und der Lese-/Schreibpfade.

Die Aufgabenstellung ein Testvehicle für Speicher für AI-Anwendungen zu Entwickeln wurde erfolgreich durchgeführt. Dies aus dem Projekt gewonnenen Erfahrungen im Bereich Simulationsmöglichkeiten, Implementierung und Test digitaler Designs, werden ebenso wie das gewonnen Wissen über den automatischen Speichertest die Entwicklung für X-FAB auf diesem Gebieten positiv beeinflussen.

Als größter Nutzen dieser Entwicklungen kann die Möglichkeit zur beschleunigten Markteinführung von nicht-flüchtigen Speichern angesehen werden, welche durch Verkürzung der Testzeiten erreicht wird, was die Zeit für die Charakterisierung ebenso verkürzt.