A variance-reduced electrothermal Monte Carlo method for semiconductor device simulation
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Date
Volume
1699
Issue
Journal
Series Titel
WIAS Preprints
Book Title
Publisher
Berlin : Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik
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Abstract
This paper is concerned with electron transport and heat generation in semiconductor devices. An improved version of the electrothermal Monte Carlo method is presented. This modification has better approximation properties due to reduced statistical fluctuations. The corresponding transport equations are provided and results of numerical experiments are presented.
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