| Issue Date | Title | Author(s) |
| 2020 | Advances in electron channelling contrast imaging and electron backscatter diffraction for imaging and analysis of structural defects in the scanning electron microscope | Trager-Cowan, C.; Alasmari, A.; Avis, W.; Bruckbauer, J.; Edwards, P.R.; Hourahine, B.; Kraeusel, S.; Kusch, G.; Jablon, B.M.; Johnston, R.; Martin, R.W.; Mcdermott, R.; Naresh-Kumar, G.; Nouf-Allehiani, M.; Pascal, E.; Thomson, D.; Vespucci, S.; Mingard, K.; Parbrook, P.J.; Smith, M.D.; Enslin, J.; Mehnke, F.; Kneissl, M.; Kuhn, C.; Wernicke, T.; Knauer, A.; Hagedorn, S.; Walde, S.; Weyers, M.; Coulon, P.-M.; Shields, P.A.; Zhang, Y.; Jiu, L.; Gong, Y.; Smith, R.M.; Wang, T.; Winkelmann, A. |
| 2011 | Epitaxie, Herstellung, und Charakterisierung von III-N basierenden Deep-UV LEDs mit Schwerpunkt auf dem UV-B bis UV-C, Teilvorhaben : Projekt-Abschlussbericht ; im Verbundvorhaben: Deep-UV LEDs auf der Basis von (AlGaln)N/GaN Quantenfilmen für den UV-A, UV-B und UV-C Wellenlängenbereich | Weyers, M.; Knauer, A.; Einfeldt, Sven; Rodriguez, Hernan; Kneissl, M.; Knüller, V.; Tessaro, T.; Petzke, T |
| 2020 | Low resistance n-contact for UVC LEDs by a two-step plasma etching process | Cho, H.K.; Kang, J.H.; Sulmoni, L.; Kunkel, K.; Rass, J.; Susilo, N.; Wernicke, T.; Einfeldt, S.; Kneissl, M. |
| 2023 | Strain induced power enhancement of far-UVC LEDs on high temperature annealed AlN templates | Knauer, A.; Kolbe, T.; Hagedorn, S.; Hoepfner, J.; Guttmann, M.; Cho, H.K.; Rass, J.; Ruschel, J.; Einfeldt, S.; Kneissl, M.; Weyers, M. |
| 2020 | Structural and luminescence imaging and characterisation of semiconductors in the scanning electron microscope | Trager-Cowan, C.; Alasmari, A.; Avis, W.; Bruckbauer, J.; Edwards, P.R.; Ferenczi, G.; Hourahine, B.; Kotzai, A.; Kraeusel, S.; Kusch, G.; Martin, R.W.; McDermott, R.; Naresh-Kumar, G.; Nouf-Allehiani, M.; Pascal, E.; Thomson, D.; Vespucci, S.; Smith, M.D.; Parbrook, P.J.; Enslin, J.; Mehnke, F.; Kuhn, C.; Wernicke, T.; Kneissl, M.; Hagedorn, S.; Knauer, A.; Walde, S.; Weyers, M.; Coulon, P.-M.; Shields, P.A.; Bai, J.; Gong, Y.; Jiu, L.; Zhang, Y.; Smith, R.M.; Wang, T.; Winkelmann, A. |
