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- ItemEquilibrium shapes of poly-crystalline silicon nanodots(Berlin : Weierstraß-Institut für Angewandte Analysis und Stochastik, 2013) Korzec, Maciek D.; Roczen, Maurizio; Schade, Martin; Wagner, Barbara; Rech, BerndThis study is concerned with the topography of nanostructures consisting of arrays of poly-crystalline nanodots. Guided by transmission electron microscopy (TEM) measurements of crystalline Si (c-Si) nanodots that evolved from a dewetting process of an amorphous Si (a-Si) layer from a SiO2 coated substrate, we investigate appropriate formulations for the surface energy density and transitions of energy density states at grain boundaries. We introduce a new numerical minimization formulation that allows to account for adhesion energy from an underlying substrate. We demonstrate our approach first for the free standing case, where the solutions can be compared to well-known Wulff constructions, before we treat the general case for interfacial energy settings that support partial wetting. We then use our method to predict the morphologies of poly-crystalline silicon nanodots.
- ItemAusbau des Kompetenzzentrums Dünnschicht und Nanotechnologie für Photovoltaik Berlin, Teilvorhaben 6: Analytik(Hannover : Technische Informationsbibliothek (TIB), 2014) Klingsporn, Max; Costina,, IoanDerzeitiger Stand von Wissenschaft und Technik Die Photovoltaiklandschaft in Deutschland ist von der Wafer-Technologie dominiert. Im Bereich Dünnschicht-PV gibt es zahlreiche vielversprechende Entwicklungspotentiale, für die jedoch auch die geeigneten Depositions-, Analyse- und Simulationsverfahren zur Verfügung stehen müssen. Zielsetzung Ziel des Teilvorhabens war der Aufbau eines instituts- und standortübergreifenden Analysenetzwerks für Dünnschichtsolarzellen, um, durch die Kombination einer Vielzahl von in der Halbleiterindustrie etablierter Methoden mit neuentwickelten Messverfahren und begleitenden theoretischen Simulationen, neue Ansätze und Wege zur Wirkungsgradsteigerung von Silizium und CIS basierten Dünnschichtsolarzellen zu entwickeln. Ergebnis Die bisher nur in der Mikroelektronik genutzten Analysemöglichkeiten wurden hinsichtlich Probenpräparation und Messbedingungen auf die Untersuchung von Solarzellen angepasst. Dafür wurden spezielle Probenhalter, Eichproben Messkonzepte und Messrezepte angefertigt bzw. entwickelt. Anwendungsmöglichkeiten Die gewonnenen Erkenntnisse tragen zur Erweiterung der Kompetenzen auf dem Gebiet der Dünnschichtsolarzellenforschung im IHP bei und haben zur Entstehung einer permanenten Plattform für künftige Charakterisierungen auf diesem Anwendungsgebiet geführt.