2010, Richter, E., Weyers, Markus, Gründer, M., Brunner, F., Hennig, Ch., Wernicke, T, Einfeldt, S., Hartmann, M., Neumann, C.

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2000, Erbert, G., Brugge, F., Fechner, I., Fredrich, D., Gielow, M., Hofmann, L., Klehr, A., Klein, A., Krause, A., Knauer, A., Olschewsky, R., Oster, A., Rechenberg, I., Ressel, P., Sebastian, J., Selent, R., Smirnitzki, V., Tessaro, T., Thiemann, M., Thies, A., Vogel, K., Wenzel, H., Weyers, M., Würfel, J., Wochatz, P.

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2011, Kerl, Ralf

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2012, Erbert, G., Crump, P., Schulz, C.M.

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2007, Würfl, J., Behtash, R., Gesche, R., Janke, B., Klockenhoff, H., Krüger, O., Lossy, R., Chaturvedi, N., Heinrich, W., Knigge, St., Liero, A., Mai, M.

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2013, Gesche, R., Bansleben, C., Porteanu, H.-E., Heinrich, W.

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2014, Al-Sawaf, Thualfiqar, Jensen, Thomas, Heinrich, Wolfgang

Radarbasierte Sensoren im Millimeterwellen-Frequenzbereich bieten hohe Auflösung und gute räumliche Lokalisierung und sind daher als bildgebende und zielverfolgende Sensoren in zukünftigen Raumfahrtprojekten interessant. Dazu ist es notwendig, Ausgangsleistungen um 20 dBm im Frequenzbereich von 70 bis 100 GHz bei gutem Wirkungsgrad bereitzustellen. Mit den verfügbaren Halbleitertechnologien für integrierte Schaltungen (MMICs) ist dies nur eingeschränkt möglich. Deshalb wurde im Rahmen des Vorhabens eine vorhandene Indium-Phosphid-basierte Heterobipolartransistor –Technologie, die das Transfer-Substrat-Prinzip nutzt, auf diese Anforderungen hin weiterentwickelt. Die Arbeiten umfassten zunächst die Stabilisierung des Prozesses sowie die Verbesserung der nichtlinearen Transistormodellierung für den interessierenden Frequenzbereich. Auf dieser Basis wurden Multi-Finger-Transistoren entwickelt, um die Leistungsausbeute pro Einzelelement zu erhöhen. Dazu mussten u.a. neue Designs mit Ballastwiderständen eingeführt werden, um thermisch bedingte Instabilitäten zu verhindern, gleichzeitig aber die Grenzfrequenzen möglichst wenig zu reduzieren. Die damit realisierten W-Band-Verstärker erzielen Ausgangsleistungen bis über 19 dBm und belegen die Eignung des Prozesses für die betrachteten Anwendungen.

2010, Niehardt, Frank, Grzeganek, Merit, Häckel, Marko, Haselton, Kirk, Kerl, Ralf, Sauer, Franziska

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2013, Brunner, F.

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2011, Paschke, Katrin

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