Browsing by Author "Olsen, R. R."
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- ItemVergleichende Tiefenprofilanalyse an Na₂O · 8 SiO₂-Schichten auf Glas mit verschiedenen Verfahren der Oberflächenspektroskopie Comperative depth profile analysis of Na₂O · 8 SiO₂ films on glass with different methods od surface spectroscopy Analyse comparée des profiles de concentration en profondeur de couches Na₂O · 8 SiO₂ sur verre par des différentes méthodes de la spectroscopie de surface(Offenbach : Verlag der Deutschen Glastechnischen Gesellschaft, 1983) Bach, Hans; Knödler, Heinz; Olsen, R. R.; Waldecker, Gerd Georg[no abstract available]