Vergleichende Tiefenprofilanalyse an Na<sub>2</sub>O · 8 SiO<sub>2</sub>-Schichten auf Glas mit verschiedenen Verfahren der Oberflächenspektroskopie
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Date
Volume
56
Issue
3
Journal
Glastechnische Berichte
Series Titel
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Publisher
Offenbach : Verlag der Deutschen Glastechnischen Gesellschaft
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