Vergleichende Tiefenprofilanalyse an Na₂O · 8 SiO₂-Schichten auf Glas mit verschiedenen Verfahren der Oberflächenspektroskopie Comperative depth profile analysis of Na₂O · 8 SiO₂ films on glass with different methods od surface spectroscopy Analyse comparée des profiles de concentration en profondeur de couches Na₂O · 8 SiO₂ sur verre par des différentes méthodes de la spectroscopie de surface
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Date
1983
Volume
56
Issue
Journal
Glastechnische Berichte
Series Titel
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Publisher
Offenbach : Verlag der Deutschen Glastechnischen Gesellschaft
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Abstract
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