Vergleichende Tiefenprofilanalyse an Na₂O · 8 SiO₂-Schichten auf Glas mit verschiedenen Verfahren der Oberflächenspektroskopie Comperative depth profile analysis of Na₂O · 8 SiO₂ films on glass with different methods od surface spectroscopy Analyse comparée des profiles de concentration en profondeur de couches Na₂O · 8 SiO₂ sur verre par des différentes méthodes de la spectroscopie de surface

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dc.bibliographicCitation.firstPage71
dc.bibliographicCitation.journalTitleGlastechnische Berichte
dc.bibliographicCitation.lastPage72
dc.bibliographicCitation.volume56
dc.contributor.authorBach, Hans
dc.contributor.authorKnödler, Heinz
dc.contributor.authorOlsen, R. R.
dc.contributor.authorWaldecker, Gerd Georg
dc.date.accessioned2025-01-16T11:16:42Z
dc.date.available2025-01-16T11:16:42Z
dc.date.issued1983
dc.description.abstract[no abstract available]ger
dc.description.versionpublishedVersion
dc.identifier.urihttps://oa.tib.eu/renate/handle/123456789/18479
dc.identifier.urihttps://doi.org/10.34657/17499
dc.language.isoger
dc.publisherOffenbach : Verlag der Deutschen Glastechnischen Gesellschaft
dc.relation.issn0017-1085
dc.rights.licenseCC BY 3.0 DE
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/3.0/de/
dc.subject.ddc660
dc.titleVergleichende Tiefenprofilanalyse an Na₂O · 8 SiO₂-Schichten auf Glas mit verschiedenen Verfahren der Oberflächenspektroskopie Comperative depth profile analysis of Na₂O · 8 SiO₂ films on glass with different methods od surface spectroscopy Analyse comparée des profiles de concentration en profondeur de couches Na₂O · 8 SiO₂ sur verre par des différentes méthodes de la spectroscopie de surfaceger
dc.typeArticle
dc.typeText
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