Replika- und Transmissions-Elektronenmikroskopie bei der Untersuchung von Entmischung und Kristallisation in Gläsern
dc.bibliographicCitation.firstPage | 432 | |
dc.bibliographicCitation.journalTitle | Glastechnische Berichte | |
dc.bibliographicCitation.lastPage | 435 | |
dc.bibliographicCitation.volume | 37 | |
dc.contributor.author | Bayer, Gerhard | |
dc.contributor.author | Hoffmann, Wolfgang | |
dc.contributor.author | Stickler, Roland | |
dc.date.accessioned | 2024-09-05T15:24:40Z | |
dc.date.available | 2024-09-05T15:24:40Z | |
dc.date.issued | 1964 | |
dc.description.abstract | Eine von G. R. Booker und R. Stickler zur Dünnätzung von Ge und Si entwickelte Methode wird zum Dünnen von Gläsern angewendet. Dadurch werden elektronenmikroskopische Transmissions- und Beugungsuntersuchungen insbesondere bei Entmischungs- und Kristallisationserscheinungen möglich. Transmissionsaufnahmen von Na-Ti-Silikatgläsern werden mit entsprechenden Replika-Aufnahmen verglichen. Die Vorteile des Verfahrens gegenüber anderen Verfahren werden erwähnt. | ger |
dc.description.version | publishedVersion | |
dc.identifier.uri | https://oa.tib.eu/renate/handle/123456789/15940 | |
dc.identifier.uri | https://doi.org/10.34657/14962 | |
dc.language.iso | ger | |
dc.publisher | Offenbach : Verlag der Deutschen Glastechnischen Gesellschaft | |
dc.relation.issn | 0017-1085 | |
dc.rights.license | CC BY 3.0 DE | |
dc.rights.uri | https://creativecommons.org/licenses/by/3.0/de/ | |
dc.subject.ddc | 660 | |
dc.title | Replika- und Transmissions-Elektronenmikroskopie bei der Untersuchung von Entmischung und Kristallisation in Gläsern | ger |
dc.type | Article | |
dc.type | Text | |
tib.accessRights | openAccess |
Files
Original bundle
1 - 1 of 1