ErUM-Forschungsschwerpunkt "Material Science @ FAIR/GSI"; Teilprojekt 1: Spectroscopic investigation of heavy-ion induced defects in vander-Waals materials; Teilprojekt 2: Characterization of Neutral and Charged Particle Fluxes during Electronic Sputtering of Solids

Schlussbericht

dc.contributor.authorSchleberger, Marika
dc.contributor.authorBreuer, Lars
dc.contributor.authorWucher, Andreas
dc.date.accessioned2026-05-18T08:50:57Z
dc.date.available2026-05-18T08:50:57Z
dc.date.issued2025
dc.description.abstractDie Universität Duisburg-Essen führte im Rahmen des ErUM-Forschungsschwerpunkts "Material Science @ FAIR/GSI" das Projekt "Spektroskopische Untersuchung der Interaktion von schweren Ionen mit Festkörpern (SUSI)" durch. Ziel des Projekts war die Entwicklung und Erweiterung von innovativer Infrastruktur für spektroskopische Methoden an Schwerionenbeschleunigern, die im Bereich der optischen Spektroskopie und der Massenspektrometrie Anwendung finden. Der Schwerpunkt lag auf der Optimierung und dem Ausbau bestehender Targetstationen an der GSI Helmholtzzentrum für Schwerionenforschung, um diese für Untersuchungen mit swift heavy ions (SHI) und highly charged ions (HCI) nutzbar zu machen. Diese Arbeiten sollten nicht nur die technische Infrastruktur verbessern, sondern auch neue experimentelle Möglichkeiten schaffen, die einer breiten Nutzerschaft unter anderem in der physikalischen Grundlagenforschung, der Materialwissenschaft, Astrophysik- und Chemie, sowie weiteren Forschungsfeldern zugutekommen.ger
dc.description.versionpublishedVersion
dc.identifier.urihttps://oa.tib.eu/renate/handle/123456789/36758
dc.identifier.urihttps://doi.org/10.34657/35826
dc.language.isoger
dc.publisherHannover : Technische Informationsbibliothek
dc.relation.affiliationUniversität Duisburg-Essen
dc.rights.licenseCreative Commons Attribution-NonDerivs 3.0 Germany
dc.subject.ddc000 | Informatik, Information und Wissen, allgemeine Werke
dc.titleErUM-Forschungsschwerpunkt "Material Science @ FAIR/GSI"; Teilprojekt 1: Spectroscopic investigation of heavy-ion induced defects in vander-Waals materials; Teilprojekt 2: Characterization of Neutral and Charged Particle Fluxes during Electronic Sputtering of Solidsger
dc.title.subtitleSchlussbericht
dc.typeReport
dcterms.event.date01.07.2019-30.06.2024
dcterms.extent16 Seiten
dtf.funding.funderBMFTR
dtf.funding.program05K19PG1
tib.accessRightsopenAccess

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