Mikroprozessorgesteuerte Flachglasprüfung mit definierter Fehleranalyse und Sortierautomatik Microprocessor-controlled flat glass testing with expanded defect analysis and automatic classifying Contrôle du verre plat par micro-ordinateur comprenant l'analyse automatique précisée des défauts et du classement

Abstract

Für die kontinuierliche Oberflächenprüfung an Flachglas- oder anderen Materialbahnen mit quer abtastendem Laserstrahl, dessen periodische Wanderbewegung durch einen rotierenden Polygonspiegel erreicht wird [1], hat die neu entwickelte Mikroprozessorsteuerung in Verbindung mit derartigen Anlagen einen wesentlichen Fortschritt gebracht, der für die immer wichtiger werdende Qualitätssicherung bei entsprechenden Produktionen neue Maßstäbe setzt. Die durch den Mikroprozessor ermöglichte hochgradige Modifizierbarkeit der Prüfvorgänge und -programme erlaubt eine praktisch unbegrenzte Anpassung der hier zur Verfügung gestellten „Hardware" an die anwendungsspezifischen Erfordernisse. Dank der neuen Technik lassen sich nicht nur alle möglichen (dies im wörtlichen Sinne) Fehler nach Längs- und Querposition orten und dabei zugleich die Fehlermerkmale erkennen sowie exakt, also auch quantitativ, analysieren, sondern anschließend aus der jeweiligen definierten „Fehlersituation" zugleich die Konsequenzen für die Anlage ziehen, das heißt gegebenenfalls nötige Sortiermaßnahmen einleiten, und zwar ebenfalls automatisch.