Schlussbericht zum Teilprojekt "Grundlagenuntersuchungen der MBE-Prozesse: MBE-Wachstum, Struktur und thermische Stabilität von Verbindungen und Heterostrukturen Seltener-Erd-Oxide auf Si" innerhalb des BMBF Verbundprojektes "Metall Gate Elektroden und epitaktische Oxide als Gate-Stacks für zukünftige CMOS-Logik- und Speichergenerationen" - MEGA EPOS

dc.contributor.otherPDI
dc.date.accessioned2016-03-24T17:38:53Z
dc.date.available2019-06-28T07:29:26Z
dc.date.issued2010
dc.description.abstract[no abstract available]
dc.description.versionpublishedVersioneng
dc.identifier.urihttps://oa.tib.eu/renate/handle/123456789/1130
dc.language.isogereng
dc.publisherHannover : Technische Informationsbibliothek (TIB)
dc.relation.doihttps://doi.org/10.2314/GBV:655971513
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dc.subject.ddc620
dc.titleSchlussbericht zum Teilprojekt "Grundlagenuntersuchungen der MBE-Prozesse: MBE-Wachstum, Struktur und thermische Stabilität von Verbindungen und Heterostrukturen Seltener-Erd-Oxide auf Si" innerhalb des BMBF Verbundprojektes "Metall Gate Elektroden und epitaktische Oxide als Gate-Stacks für zukünftige CMOS-Logik- und Speichergenerationen" - MEGA EPOS
dc.typereporteng
dc.typeTexteng
tib.accessRightsopenAccesseng
wgl.contributorPDIeng
wgl.subjectIngenieurwissenschafteneng
wgl.typeReport / Forschungsbericht / Arbeitspapiereng
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