Röntgenspektroskopische Untersuchung der OKA-Linie einiger Oxide und Gläser

Abstract

Es werden Lage und Profil der K-Röntgenemissionslinien von Sauerstoff in den Oxiden SiO2 , Al2O3 und MgO sowie in Natriumsilicatgläsern mit 15, 25 und 42 Gew.-% Na2O mit einem handelsüblichen Gerät untersucht. Die festgestellten Veränderungen (Wellenlängenverschiebung und Halbwertsbreite) mit der chemischen Variation gehen parallel mit den Paulingschen Elektronegativitäten. Eine Unterscheidung zwischen brücken- und nichtbrückenbildendem Sauerstoff in Gläsern erscheint nicht ausgeschlossen, jedoch erfordert dies den Einsatz eines hochauflösenden Röntgenspektrometers mit äußerst präziser Bau- und Betriebsweise.