ForMikro-LeitBAN - Systematische Entwicklung von ohmschen Kontakten für AlN Bauelemente und deren elektrische und optische Charakterisierung
| dc.contributor.author | Heitmann, Johannes | |
| dc.date.accessioned | 2025-12-12T10:34:06Z | |
| dc.date.available | 2025-12-12T10:34:06Z | |
| dc.date.issued | 2024-12-18 | |
| dc.description.abstract | Datei-Upload durch TIB | ger |
| dc.description.version | publishedVersion | |
| dc.identifier.uri | https://oa.tib.eu/renate/handle/123456789/27578 | |
| dc.identifier.uri | https://doi.org/10.34657/26809 | |
| dc.language.iso | ger | |
| dc.publisher | Hannover : Technische Informationsbibliothek | |
| dc.relation.affiliation | TU Bergakademie Freiberg, Institut für Angewandte Physik (IAP) | |
| dc.rights.license | Creative Commons Attribution-NonDerivs 3.0 Germany | |
| dc.rights.uri | https://creativecommons.org/licenses/by-nd/3.0/de/ | |
| dc.subject.ddc | 000 | Informatik, Information und Wissen, allgemeine Werke | |
| dc.title | ForMikro-LeitBAN - Systematische Entwicklung von ohmschen Kontakten für AlN Bauelemente und deren elektrische und optische Charakterisierung | ger |
| dc.title.subtitle | Sachbericht zum Verwendungsnachweis | |
| dc.type | Report | |
| dc.type | Text | |
| dcterms.event.date | 01.10.2019-30.06.2024 | |
| dcterms.extent | 27 Seiten | |
| dtf.funding.funder | BMFTR | |
| dtf.funding.program | 16ES1114 | |
| dtf.funding.verbundnummer | 01199343 | |
| tib.accessRights | openAccess |
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