Anwendung der Vielstrahlinterferometrie zur Untersuchung von Mikrostrukturen auf Glasoberflächen

dc.bibliographicCitation.firstPage	348
dc.bibliographicCitation.journalTitle	Glastechnische Berichte
dc.bibliographicCitation.lastPage	350
dc.bibliographicCitation.volume	37
dc.contributor.author	Berger, Klaus
dc.contributor.author	Simonsohn, Gerhard
dc.date.accessioned	2024-09-05T15:24:39Z
dc.date.available	2024-09-05T15:24:39Z
dc.date.issued	1964
dc.description.abstract	Es wird über die wichtigsten Ergebnisse einer Arbeit berichtet, die sich mit vielstrahlinterferometrischen Untersuchungen an verschiedenen Glasoberflächen befaßt. Das Hauptgewicht der Diskussion liegt auf der Frage, inwieweit die für das Verfahren erforderliche Silber-Aufdampfschicht die Struktur der Glasoberfläche richtig wiedergibt.	ger
dc.description.version	publishedVersion
dc.identifier.uri	https://oa.tib.eu/renate/handle/123456789/15934
dc.identifier.uri	https://doi.org/10.34657/14956
dc.language.iso	ger
dc.publisher	Offenbach : Verlag der Deutschen Glastechnischen Gesellschaft
dc.relation.issn	0017-1085
dc.rights.license	CC BY 3.0 DE
dc.rights.uri	https://creativecommons.org/licenses/by/3.0/de/
dc.subject.ddc	660
dc.title	Anwendung der Vielstrahlinterferometrie zur Untersuchung von Mikrostrukturen auf Glasoberflächen	ger
dc.type	Article
dc.type	Text
tib.accessRights	openAccess

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