Glastechnische Interferenz- und Schlierenaufnahme

Abstract

Inferenz-, Schlieren und Schattenverfahren sind auf ein einheitliches physikalisches Prinzip zurückzuführen: Die Verformung der Lichtwellenfläche nach Durchtritt durch das Objekt infolge innerer äußerer "Optik". Das Interferenzverfahren macht diese Verformung unmittelbar sichtbar, der Keilwinkel oder der Brechungsindex an jeder Stelle des Objektes lassen sich daraus ermitteln. Das Schlierenverfahren gibt die Größe der Lichtablenkung an, das Schattenverfahren reagiert auf die Änderung der Lichtablenkung. Der grundsätzliche Aufbau der Anordnung wird beschrieben, die Auswertung der Aufnahmen diskutiert.