Radiochemische Oberflächenbestimmung an Glas
| dc.bibliographicCitation.firstPage | 156 | |
| dc.bibliographicCitation.issue | 5 | |
| dc.bibliographicCitation.journalTitle | Glastechnische Berichte | |
| dc.bibliographicCitation.lastPage | 172 | |
| dc.bibliographicCitation.volume | 12 | |
| dc.contributor.author | Heckter, M. | |
| dc.date.accessioned | 2024-09-10T11:53:27Z | |
| dc.date.available | 2024-09-10T11:53:27Z | |
| dc.date.issued | 1934 | |
| dc.description.abstract | Einleitung: Bedeutung der Kenntnis vom Glaskornoberflächen. - Bestimmung von Glasgrießoberflächen auf Grund des Emaniervermögens des mit Ra bzw. ThX versetzten Glases. - Erörterung der Untersuchungsergebnisse. - Theoretische Betrachtungen. (Berechnung der Rückstoßweiten von RaEm und ThEm 111 Glas. - Beziehungen zwischen EmV und Oberflächen. - Anwendbarkeit der Emaniermethode in der Glastechnik und in der Keramik.) Zusammenfassung. | ger |
| dc.description.version | publishedVersion | |
| dc.identifier.uri | https://oa.tib.eu/renate/handle/123456789/16413 | |
| dc.identifier.uri | https://doi.org/10.34657/15435 | |
| dc.language.iso | ger | |
| dc.publisher | Offenbach : Verlag der Deutschen Glastechnischen Gesellschaft | |
| dc.relation.issn | 0017-1085 | |
| dc.rights.license | CC BY 3.0 DE | |
| dc.rights.uri | https://creativecommons.org/licenses/by/3.0/de/ | |
| dc.subject.ddc | 660 | |
| dc.title | Radiochemische Oberflächenbestimmung an Glas | ger |
| dc.type | Article | |
| tib.accessRights | openAccess |
Files
Original bundle
1 - 1 of 1