Anwendung des Schlierenmikroskopes zur Untersuchung der Schichtung von Tafelglas

Abstract

Nach einer kurzen Beschreibung des Farbschlierenmikroskopes nach Schardin wird über die Anwendung dieses Gerätes zur Untersuchung der bei Betrachtung auf die Schnittkante in Tafelglas sichtbaren Schichtungen berichtet. Diese Schichtung besteht aus dünnen Lagen von Gläsern mit verändertem Brechungsindex mit breiten Diffusionszonen nach beiden Seiten. Temperversuche ergeben, dass die Schichten chemische Schlieren sind, deren Abweichung vom übrigen Glas nach interferometrischer Messung der Änderung des Brechungsindexes in der Größenordnung von 0,1 % der Hauptglasbildner liegt. Die Untersuchung der zeitlichen Veränderung der Schichtung zeigt, dass neue Schichten im allgemeinen in einer "Mittelachse" des Blattquerschnittes auftauchen und von da zu den feuerpolierten Oberflächen wandern. Ein Erklärungsversuch dieser Schichtwanderung bringt das Auftreten der Schlieren als Schichten im fertigen Blatt mit der Strömung des Glases in der Schmelzwanne in Zusammenhang und lässt vermuten, dass die Ursachen der Schichtinhomogenität in der Schmelzwanne in Zusammenhang und lässt vermuten, dass die Ursachen der Schichtinhomogenität in der Schmelzwanne zu suchen sind. Der Vergleich der Schichtung von Tagelglas mit Schlieren in optischem Glas und Hohlglas zeigt, dass der Grad der Schlierigkeit bei diesem Fabrikaten nicht grundsätzlch verschieden ist. Abschließend wird die Möglichkeit diskutiert, die Schlierigkeit quantitativ in einer "Schlierenzahl" zu erfassen.