(Saarbrücken : Leibniz-Institut für neue Materialien, 2007) Krajewski, Thomas
Eine Reihe zertifizierter natürlicher Mineralien und synthetisierter Zwei- und Mehrelementverbindungen, Kryolith (Na3AIF6), Zirkon (ZrSiO4) und Indiumantimonid (InSb) - teilweise in oxidischer Form vorliegend - wurde nach standardfreier Methodik mittels energiedispersiver Röntgenspektrometrie (EdXS) sowohl im TEM als auch ergänzend bzw. vergleichend im SEM chemisch analysiert. Zur quantitativen Auswertung der Röntgespektren wurden für die Analytik im TEM ein Dünnschichtmodell und für die Analytik im SEM die für dicke Proben übliche ZAF-Korrektur genutzt. Die analytischen Befunde werden bewertet, und es wird unter dem Aspekt der praxisbezogenen Anwendung auf die mit der TEM-Dünnschichtanalytik verbundenen Probleme hingewiesen.
