Elektronenmikroskopische Untersuchung von Glasfäden

dc.bibliographicCitation.firstPage463
dc.bibliographicCitation.journalTitleGlastechnische Berichte
dc.bibliographicCitation.lastPage470
dc.bibliographicCitation.volume30
dc.contributor.authorKuhn, Peter
dc.contributor.authorSchimmel, Gerhard
dc.date.accessioned2024-11-15T15:08:42Z
dc.date.available2024-11-15T15:08:42Z
dc.date.issued1957
dc.description.abstractSehr dünne Glasfäden wurden unter Umgehung eines Abdruckverfahrens direkt mikroskopisch untersucht. Bei der Bestrahlung entstanden extrem dünne Fäden (beim Quarzglas mit Durchmessern unter 15 Å), die sich jedoch noch einwandfrei aufnehmen ließen. Eine Reihe technischer Gläser wurde geprüft, wobei in einzelnen Fällen sehr feine Inhomogenitäten in den Gläsern nachgewiesen werden konnten. An einigen Gläsern traten Phasentrennungen auf. Besonders auffällig waren diese Erscheinungen beim Selenglas und Bleiglas. Bei ersterem wurde eine intensive Gasentwicklung neben Selenausscheidungen beobachtet. Beim Bleiglas konnte der Verlauf der Phasentrennung genau verfolgt und in elektronenmikroskopischen Aufnahmen festgehalten werden. Frisch ausgezogene Fäden neigten stärker zu Phasentrennungen als ältere. Bereits nach 12 Stunden war eine Stabilisierung zu beobachten.ger
dc.description.versionpublishedVersion
dc.identifier.urihttps://oa.tib.eu/renate/handle/123456789/17697
dc.identifier.urihttps://doi.org/10.34657/16719
dc.language.isoger
dc.publisherOffenbach : Verlag der Deutschen Glastechnischen Gesellschaft
dc.relation.issn0017-1085
dc.rights.licenseCC BY 3.0 DE
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by/3.0/de/
dc.subject.ddc660
dc.titleElektronenmikroskopische Untersuchung von Glasfädenger
dc.typeArticle
dc.typeText
tib.accessRightsopenAccess
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