Spectrophotometric and ellipsometric measurements on coated flat glass : Report of the International Commission on Glass. Technical Committee 19 "Physical Methods for Studying Glass Surfaces"
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Abstract
The deposition technology of thin films on flat glass is used for optimizing the behaviour of glazings as regards natural daylighting, solar control and thermal insulation. The characterization of the modified glass surface is of great importance to predict this behaviour. In 1986 the International Commission on Glass (ICG) decided to commit the task of glass surface characterization to its Technical Committee TC 19. Three coated samples were circulated among the members of TC 19 and the coatings were characterized with different techniques. This paper reports the results obtained with optical methods.
Die Technologie zum Aufbringen dünner Schichten auf Flachglas wird zur Optimierung des Verhaltens von Verglasungen hinsichtlich der natürlichen Beleuchtung, des Sonnenschutzes und der Wärmeisolierung verwendet. Die Eigenschaften der modifizierten Glasoberfläche sind von großer Bedeutung bei der Vorhersage dieses Verhaltens. 1986 beschloß die Internationale Glaskommission (ICG), ihr Technisches Komitee TC 19 mit der Aufgabe der Charakterisierung von Glasoberflächen zu betrauen. Drei beschichtete Flachglasproben wurden unter den Mitgliedern des TC 19 ausgetauscht und die Eigenschaften der Beschichtungen nach verschiedenen Verfahren bestimmt. Die vorliegende Arbeit faßt die mit optischen Untersuchungsverfahren erhaltenen Ergebnisse zusammen
