„Segmentierter Halbleiterdetektor für In-situ-Prüfung mittels differentiellem Phasenkontrast (DPC)“ im Rahmen des Eurostars-Projekts: E! 115232 HINT „Ultraschnelles nanomechanisches In-situ-Prüfsystem“
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Hannover : Technische Informationsbibliothek
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