„Segmentierter Halbleiterdetektor für In-situ-Prüfung mittels differentiellem Phasenkontrast (DPC)“ im Rahmen des Eurostars-Projekts: E! 115232 HINT „Ultraschnelles nanomechanisches In-situ-Prüfsystem“
Loading...
Date
Authors
Editor
Advisor
Volume
Issue
Journal
Series Titel
Book Title
Publisher
Hannover : Technische Informationsbibliothek
Supplementary Material
Other Versions
Link to publishers' Version
Abstract
Datei-Upload durch TIB
Description
Keywords
Keywords GND
Conference
Publication Type
Report
Version
publishedVersion
License
Creative Commons Attribution-NonDerivs 3.0 Germany