„Segmentierter Halbleiterdetektor für In-situ-Prüfung mittels differentiellem Phasenkontrast (DPC)“ im Rahmen des Eurostars-Projekts: E! 115232 HINT „Ultraschnelles nanomechanisches In-situ-Prüfsystem“
| dc.contributor.author | Sichting, Christoph | |
| dc.date.accessioned | 2025-09-15T07:36:03Z | |
| dc.date.available | 2025-09-15T07:36:03Z | |
| dc.date.issued | 2024 | |
| dc.description.abstract | Datei-Upload durch TIB | ger |
| dc.description.version | publishedVersion | |
| dc.identifier.uri | https://oa.tib.eu/renate/handle/123456789/22773 | |
| dc.identifier.uri | https://doi.org/10.34657/21790 | |
| dc.language.iso | ger | |
| dc.publisher | Hannover : Technische Informationsbibliothek | |
| dc.relation.affiliation | point electronic GmbH | |
| dc.rights.license | Creative Commons Attribution-NonDerivs 3.0 Germany | |
| dc.rights.uri | https://creativecommons.org/licenses/by-nd/3.0/de/ | |
| dc.subject.ddc | 600 | |
| dc.title | „Segmentierter Halbleiterdetektor für In-situ-Prüfung mittels differentiellem Phasenkontrast (DPC)“ im Rahmen des Eurostars-Projekts: E! 115232 HINT „Ultraschnelles nanomechanisches In-situ-Prüfsystem“ | ger |
| dc.type | Report | |
| dcterms.event.date | 01.09.2021-31.12.2023 | |
| dcterms.extent | 17 Seiten | |
| dtf.funding.funder | BMFTR | |
| dtf.funding.program | 01QE2146B | |
| dtf.funding.verbundnummer | 01238567 | |
| tib.accessRights | openAccess |
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