Über die Empfindlichkeit der Interferenz- und Schlierenverfahren bei der Untersuchung der Schichtung des Tafelglases

Abstract

Eine befriedigende Erfassung der Schlierenschichten des Tafelglases mit Hilfe optischer Verfahren ist nur bei Betrachtung von Querschliffen möglich. Die Empfindlichkeit lässt sich durch Veränderung der Schliffdicke in weiten Grenzen variieren, kann aber nicht beliebig gesteigert werden. Vielmehr muss man sich auf eine maximale Schliffdicke beschränken, die im wesentlichen durch die zweite Änderung der Brechzahl bestimmt ist. Diese Dicke wird zunächst rechnerisch ermittelt, das Ergebnis der Rechnung an Beispielen veranschaulicht und einige grundsätzliche Folgerungen gezogen.