Elektronenmikroskopische Beobachtungen an Ultramikrotomschnitten von Fotochrom- und Kupferrubingläsern

Abstract

Sowohl beim Fotochromglas als auch beim Kupferrubinglas konnten die in der Glasmatrix dispergierten Metalle Silber und Kupfer mit Hilfe der Mikrotomtechnik sichtbar gemacht und identifiziert werden. Desweiteren wurde gezeigt, daß sich dünne Glasschnitte im Elektronenstrahl verändern. Dies kann sich sowohl als Phasentrennung als auch als Oberflächendiffusion der dispergierten Metallteilchen bemerkbar machen. Für die Oberflächendiffusion wurde das elektrostatische Feld, welches sich bei Elektronenbeschuß ausbildet, verantwortlich gemacht. Bei der Untersuchung von Dünnschnitten ist zu beachten, daß sich die Teilchengrößenverteilung der dispergierten Metalle durch solche Vorgänge zu größeren Werten hin verschiebt.